鍍層檢測儀ux210

儀器簡介：
ux210型x熒光光譜儀，主要用于rohs指令限定的6種有害物質，鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻Cr、溴Br的準確檢測,是各電子電器生產商應對rohs指令*檢測工具；此外ux210型x熒光光譜儀還可以測試K-U之間的其它元素以及鍍層厚度的檢測。

技術參數：
儀器尺寸：640（w）×474（d）×412（h）mm
樣品腔尺寸：小樣品腔-300（w）×300（d）×100（h）mm
                  大樣品腔-無限制，小于30公斤
重量：48kg
工作環境：15-30攝氏度；相對濕度≤85%
可分析的元素范圍：元素周期表從19號鉀K至92號鈾U
zui低檢測下限：≤2ppm
測試時間：200-300s
探測器*分辨率：149±5ev
電源：AC220V±10%,50Hz 800W

標準配置：
探測器：Amptek 100CR
MCA多道脈沖處理器：自主研發制造
高壓電源：Spellman MNX50P50
x光管：丹東X光管Mo靶
分析軟件：ux210主用版V6.0

選配件：
多元素分析軟件
鍍層厚度分析軟件
六價鉻測試儀
光路優化系統（可測試鹵素氯、zui低檢出限≤300PPM）

特點：
成熟的經典分析方法
憑借國家“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應用經驗的經典數學分析模型，為測試者提供可靠、精準、穩定的分析結果。